涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品及廠家
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2024-12-23
合金成分鍍層厚度膜厚儀 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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電鍍液鍍層含量測(cè)定鍍層測(cè)厚儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
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鍍層膜厚儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
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xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2024-12-23
xrf電鍍層膜厚儀 開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
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鍍層厚度測(cè)試分析儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2024-12-23
天瑞儀器thick800a 注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞
更新時(shí)間:2024-12-23
x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。x光管。
更新時(shí)間:2024-12-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
更新時(shí)間:2024-12-23
國產(chǎn)鍍層膜厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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國產(chǎn)x鍍層測(cè)厚儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。高低壓電源。
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天瑞儀器光譜儀thick800a 同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2024-12-23
x鍍層測(cè)厚儀注意事項(xiàng)開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染x光管和探測(cè)器窗口，造成測(cè)量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測(cè)量窗口的薄膜被破壞。
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電鍍滾鍍廠測(cè)厚儀：thick800a測(cè)定步驟：步：新建snpb-cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線第二步：確定測(cè)試時(shí)間：40s第三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差
更新時(shí)間:2024-12-23
x射線鍍層測(cè)厚檢測(cè)儀針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2024-12-23
電鍍層測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
更新時(shí)間:2024-12-23
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。銅鍍鎳鍍鋅測(cè)厚膜厚儀相互立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220v±5v, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
更新時(shí)間:2024-12-23
多元素復(fù)合鍍層測(cè)試儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。
更新時(shí)間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2024-12-23
thick800a 膜厚儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍層膜厚測(cè)厚儀型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時(shí)間:2024-12-23
電鍍層x射線光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍層厚度檢測(cè)儀 型號(hào)：thick 800a元素分析范圍從硫(s)到鈾（u）。同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
更新時(shí)間:2024-12-23
五金配件鈦合金檢測(cè)儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降
更新時(shí)間:2024-12-23
pcb多電鍍鍍層測(cè)厚儀 針對(duì)不規(guī)則樣品進(jìn)行高度激光定位測(cè)試點(diǎn)分析；軟件可分析5層25種元素鍍層；通過軟件操作樣品移動(dòng)平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)不同測(cè)試點(diǎn)的測(cè)試需求；配置高分辨率si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)對(duì)多鍍層樣品的分析；
更新時(shí)間:2024-12-23
x射線鍍層膜厚測(cè)厚儀開放式樣品腔。二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和x光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。
更新時(shí)間:2024-12-23
鍍層分析光譜儀特點(diǎn)1.上照式2.儀高分辨率探測(cè)器3.鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)4.測(cè)試組件可升降5.可視化操作6良好的射線屛蔽
更新時(shí)間:2024-12-23
涂層測(cè)厚儀 dr120一體式手持型聯(lián)絡(luò)天津嘉諾德儀表，dr120采用電磁感應(yīng)原理無損傷進(jìn)行磁性金屬表面涂鍍層厚度的測(cè)量？蔁o損地測(cè)量磁性金屬基體（如：鋼、鐵、鎳）上非磁性覆層的厚度（如：油漆、電泳、琺瑯、橡膠、粉未、搪瓷、防腐層,鍍鋅、鉻等）;dr120一體式涂層測(cè)厚儀采用金屬測(cè)頭
更新時(shí)間:2024-12-23
涂層測(cè)厚儀bk8115，ce 認(rèn)證合格，簡單、輕巧型、單手可操作，兩點(diǎn)校正，背光顯示，使用者可選擇μm/mils
更新時(shí)間:2024-12-23
tt210涂層測(cè)厚儀（是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。tt210涂層測(cè)厚儀是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器。
更新時(shí)間:2024-12-23
dr270涂層測(cè)厚儀是一款渦流測(cè)厚儀，采用渦流測(cè)厚方法，可無損地測(cè)量非磁性金屬基體（如：鋁、銅、不銹鋼）上非導(dǎo)電覆層的厚度（如:油漆、粉末、塑料、橡膠、琺瑯、搪瓷、電泳、防腐層等）
更新時(shí)間:2024-12-23
dr280涂層測(cè)厚儀是一款兩用涂層測(cè)厚儀，專業(yè)測(cè)量金屬材料表面涂鍍層覆蓋層物體厚度的專業(yè)無損檢測(cè)儀器。它根據(jù)金屬基體不同使用以下不同的測(cè)量方法。
更新時(shí)間:2024-12-23
dr210涂層測(cè)厚儀是一款一體式渦流測(cè)厚儀，它集成了便攜式，一體式，手持式,智能數(shù)顯等特點(diǎn)，快速、無損傷地進(jìn)行非磁性金屬表面涂層厚度的測(cè)量
更新時(shí)間:2024-12-23
dr230涂層測(cè)厚儀是一款一體式兩用覆層測(cè)厚儀，它集成了便攜式，一體式，手持式,智能數(shù)顯等特點(diǎn)，能自動(dòng)識(shí)別基體底材,快速、無損傷地進(jìn)行金屬表面涂鍍層厚度的測(cè)量。
更新時(shí)間:2024-12-23
英國易高elcometer涂層測(cè)厚儀a456cfbs+t456cf1r易高elcometer456儀器分為4個(gè)類型：e型、b（基本型）、s（標(biāo)準(zhǔn)型）、t（高級(jí)型），從最初的易高456e型到現(xiàn)在的456t型，儀器功能不斷增加，易高456t型帶有記憶、字母數(shù)字組合記錄數(shù)據(jù)批次和藍(lán)牙傳輸功能。
更新時(shí)間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時(shí)間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時(shí)間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時(shí)間:2024-12-23
mch系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時(shí)間:2024-12-23
lat-b 型智能化涂、鍍層測(cè)厚儀是一款利用、電磁感應(yīng)原理，采用單片機(jī)控制的智能化儀 測(cè)量磁性基層上涂、鍍層厚度它在lat-a的基礎(chǔ)上去除了存儲(chǔ)、打印、統(tǒng)計(jì)、通信等不常用功能，精簡了面板按鍵，具有體積更小、使用更簡單的特點(diǎn)。是一款更適合現(xiàn)場(chǎng)使用的儀器。它可以單次、連續(xù)測(cè)量，具有超強(qiáng)報(bào)警功能。
更新時(shí)間:2024-12-23
lktc系列電腦膜層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶。它采用微機(jī)技術(shù)，精度高，數(shù)字顯示，示值穩(wěn)定，功耗低，操作方便，無校正旋鈕，單探頭全量程測(cè)量，體積小重量輕。具有存貯，讀出，統(tǒng)計(jì)，低電壓指示、上下限報(bào)警功能。其性能達(dá)到國際同類產(chǎn)品先進(jìn)水平。
更新時(shí)間:2024-12-23
果歐 gt8202 兩用/非鐵基涂層測(cè)厚儀 涂層膜厚計(jì)gt-8202
更新時(shí)間:2024-12-23
實(shí)物蘭泰一體式涂層測(cè)厚儀cm－8829s 非鐵基測(cè)厚儀cm8829n
更新時(shí)間:2024-12-23
實(shí)物原裝鐵基/非鐵基涂層測(cè)厚儀cm8826fn 廣州蘭泰cm-8826fn
更新時(shí)間:2024-12-23
原裝出售cm-8823 非鐵基涂層測(cè)厚儀cm8823 特價(jià)中
更新時(shí)間:2024-12-23
最新產(chǎn)品
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