原子力顯微鏡（AFM）產(chǎn)品及廠家
全新發(fā)布的 afm-in-phenom xl 結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (sem) 和原子力顯微鏡 (afm) 的優(yōu)勢，實現(xiàn)了在同一系統(tǒng)中對樣品進行多模態(tài)（sem 及 afm 形貌、元素、機械、電學(xué)、磁學(xué)）關(guān)聯(lián)分析。
更新時間:2024-12-19
spm-9700ht作為一種全新的換代產(chǎn)品，通過新開發(fā)的可快速響應(yīng)的ht掃描器以及軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計的優(yōu)化，成功實現(xiàn)以傳統(tǒng)設(shè)備5倍以上的速度獲取圖像數(shù)據(jù)。spm-9700ht在基本觀察功能的基礎(chǔ)上融入了更強的測量功能，具備了卓越的信號處理能力，加上先進的vbdf功能，數(shù)字處理能力比同類產(chǎn)品提高40%，可得到更高分辨率、更高質(zhì)量的觀察圖像。
更新時間:2024-12-10
dimension fastscan bio 原子力顯微鏡 （afm） 可實現(xiàn)生物動力學(xué)的高分辨率研究，實時樣品觀測的時間分辨率高達每 3 幀。更重要的是，它同時使afm比以往更容易使用。dimension fastscan bio afm 以先進的大
更新時間:2024-12-10
s-snom技術(shù)使用金屬鍍層的原子力（afm）探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米區(qū)域的復(fù)雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當?shù)哪Ｐ停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學(xué)常數(shù)（n，k）。在某些情況下，光學(xué)相位與波長還提供了個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息
更新時間:2024-12-02
工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式標準模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊選配模塊：導(dǎo)電力模式，表面電勢模塊
更新時間:2024-12-02
多功能掃描探針顯微鏡afm100 plus/afm100系統(tǒng)afm100 plus/afm100系統(tǒng)是以在研發(fā)、生產(chǎn)、教育等各種場合普及afm應(yīng)用為目的，并追求操作性、性及率觀察的通用型高分辨掃描探針
更新時間:2024-12-02
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2024-12-02
日立環(huán)境多功能原子力顯微鏡通過采用『綜合型holder flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時，免去了以往環(huán)境型spm的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。3. 卓越的高性能采用了『swing cancel功能』，減輕了樣品的浮動，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/
更新時間:2024-12-02
日立5500m全自動型原子力顯微鏡afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精
更新時間:2024-12-02
環(huán)境多功能原子力顯微鏡afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品
更新時間:2024-12-02
1000型原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結(jié)構(gòu)等。可測樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè)：高校（理工類）實驗室、科研機構(gòu)、公安刑偵和工業(yè)檢測部門。
更新時間:2024-12-02
afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
更新時間:2024-10-25
afm5100n除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了afm懸臂操作。
更新時間:2024-10-25
通常的懸臂是非常渺小而且很難操作，內(nèi)部裝有傳感器的「自檢測懸臂」比普通的afm探針要大得多，容易拿取，安裝非常簡單方便。
更新時間:2024-10-25
afm5300e是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。afm5300e還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響
更新時間:2024-10-25
afm5500m是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動操作平臺。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測量精度大幅提高。并且，通過sem-afm共享坐標樣品臺可輕松實現(xiàn)同一視野的相互觀察分析。
更新時間:2024-10-25
原子力顯微鏡（atomic force microscopy）是種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后發(fā)生位移。檢測器接受反射光，后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
更新時間:2024-10-18
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、mems、太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。p-7是kla公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng)，歷經(jīng)技術(shù)積累和不斷迭代更新，集合眾多技術(shù)優(yōu)勢。p-7建立在市場先的p-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了p-17技術(shù)的卓越測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了高的性價比。p-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進
更新時間:2024-09-23
zygo zegage pro光學(xué)輪廓儀是用于3d形貌定量測試，和精密機械表面粗糙度檢測的理想非接觸式檢測工具。它工業(yè)化的設(shè)計提供快速，精確的測量方案，并且外形緊湊、性價比高，能夠放在生產(chǎn)車間工作，而不需要振動隔離和特殊的隔離裝置。同時交互式的控制軟件mx 提供了簡單而精細的圖形圖像來幫助你的加工處理。
更新時間:2024-09-23
zygo newview 9000 3d 光學(xué)輪廓儀提供了強大的非接觸式光學(xué)表面分析的多功能性。它可以容易和快速地測量各種表面類型，包括光滑、粗糙、平坦、傾斜和階梯式的表面。所有的測量都是無損、快速、無需樣品制備的。系統(tǒng)的核心是 zygo 相干掃描干涉技術(shù)(csi)，提供了所有放大倍數(shù)下亞納米的精度，并且能夠快速測試各種樣品表面。
更新時間:2024-09-23
不論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，f20都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過usb連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)內(nèi)得到測量結(jié)果；谀衬K化設(shè)計的特點，f20適用于各種應(yīng)用。
更新時間:2024-09-23
依靠f50先進的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。f50系統(tǒng)配置高精度使用壽命長的移動平臺，確保能夠做成千上萬次測量。
更新時間:2024-09-23
bruker dimension® icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米域的研究者帶來了全新的afm應(yīng)用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以上應(yīng)用廣泛的af
更新時間:2024-09-23
zygo致力于保護您在verifire干涉儀的長壽命期間的投資。 在全球安裝了數(shù)千套系統(tǒng)，沒有其他計量公司接近zygo的產(chǎn)品質(zhì)量和客戶滿意度記錄。質(zhì)量多功能性和生產(chǎn)力大化您的投資zygo公司：光學(xué)計量的導(dǎo)者•我們保證verifire系統(tǒng)和組件作為完整解決方案的一部分，符合我們的iso 9001注冊設(shè)施
更新時間:2024-09-23
lumina at1可以在4分鐘內(nèi)完成150毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2024-09-23
lumina at2-efem可以在2分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2024-09-23
lumina at2可以在3分鐘內(nèi)完成300毫米晶圓的掃描，對于基底上下表面的顆粒、凸起、凹陷、劃痕、內(nèi)含物等缺陷均可一次性成像。在透明基底，如玻璃，化合物半導(dǎo)體如氮化鎵、砷化鎵、碳化硅等樣品上有獨特的優(yōu)勢。也可用于薄膜涂層的成像厚度變化的全表面掃描。大樣品300 x 300 mm。
更新時間:2024-09-23
kla是全球半導(dǎo)體在線檢測設(shè)備市場大的供應(yīng)商，在半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、mems、 太陽能、光電子以及其他域中有著高的市占率。alpha-step" 探針式輪廓儀支持合階高度和粗度的2d及3d(d-600)輪廓掃描，以及翹曲度和應(yīng)力的2d測量。創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。
更新時間:2024-09-23
film sense 多波長橢偏儀通過簡單的 1 測量，可以以高的精度和精度測定大多數(shù)透明薄膜的薄膜厚度和折射率并對許多樣品進行光學(xué)常數(shù) n&k 等薄膜性質(zhì)的測量。多波長橢偏儀提供了強大的薄膜測量功能售價只是單一波長橢偏儀和光譜橢偏儀的中等水平。film sense 偏儀非常適合在研究實驗室教室，現(xiàn)場處理室，工業(yè)質(zhì)量控制等等。
更新時間:2024-09-23
原子力顯微鏡應(yīng)用：其應(yīng)用范圍十分廣泛，利用原子力顯微鏡可以輕松得到樣品的表面觀察、尺寸測定、表面粗糙度、表面顆粒度分析、表面電勢梯度和電荷分布、表面磁疇、生物細胞的表面結(jié)構(gòu)等？蓽y樣品有：薄膜、納米陶瓷、石墨烯、復(fù)合材料、納米復(fù)合材料、玻璃、硅片、共聚物、電池材料、半導(dǎo)體材料、納米纖維、蛋白質(zhì)、納米粉體等。應(yīng)用行業(yè)：高校（理工類）實驗室、科研機構(gòu)、工業(yè)檢測部門。
更新時間:2024-09-19
dimension edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù)，達到了同類產(chǎn)品的zui高水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性價比的強大工具。
更新時間:2024-08-26
dimension fastscantm 原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension® icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。
更新時間:2024-08-26
dimension icon 系列作為布魯克公司(bruker axs)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項行業(yè)ling先的zhuan li技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
更新時間:2024-08-26
一包10根高質(zhì)量硅蝕刻探針，用于tappingmode™和其他非接觸模式。bruker afm probes推出了其流行的tesp / tespa afm探針的改進版本。 布魯克的新系列tesp高品質(zhì)優(yōu)質(zhì)蝕刻硅探針為tappingmode™和空氣中的非接觸模式設(shè)定了行業(yè)標準。
更新時間:2024-07-17
更易定位，更適合如按樣品。此型號為布魯克貼標產(chǎn)品，同型號奧林巴斯omcl-ac240ts-r3 探針。懸臂共振頻率：70(50~90) khz（空氣中），彈性系數(shù)：2 n/m。針尖曲率半徑：7nm（典型值）al涂層。
更新時間:2024-07-17
dimension icon是dimension系列產(chǎn)品中的新款設(shè)備,它基于上應(yīng)用廣泛的afm平臺，集合了數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新、行業(yè)內(nèi)先的應(yīng)用定制及客戶反饋等于一身。這個系統(tǒng)經(jīng)過從上到下的設(shè)計，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現(xiàn)。
更新時間:2024-07-17
dimension fastscantm原子力顯微鏡（atomic force microscope，afm），在不損失dimension icon 超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了afm成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的afm用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。
更新時間:2024-07-17
最新產(chǎn)品
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