場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡產(chǎn)品及廠家
sigma是一款具有 gemini 鏡筒設(shè)計(jì)，用于成像及分析應(yīng)用的高性能熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。gemini 鏡筒的特點(diǎn)是高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源、電子束加速器和 in-lens 二次電子探測(cè)器。在獲得高成像質(zhì)量的基礎(chǔ)上還具有良好的易用性。
更新時(shí)間:2024-12-17
特點(diǎn)：1. 優(yōu)秀的低加速電壓成像能力，1kv分辨率可達(dá)1.3nm2. 日立專利的exb設(shè)計(jì)，不需噴鍍，可以直接觀測(cè)不導(dǎo)電樣品3. upper探頭可選擇接受二次電子像或背散射電子像4. 可以根據(jù)樣品類型和觀測(cè)要求選擇打開(kāi)或關(guān)閉減速功能5. 標(biāo)配有冷指、電子槍內(nèi)置加熱器，物鏡光闌具有自清潔功能6. 儀器的烘烤維護(hù)及烘烤后的透鏡機(jī)械對(duì)中均可由用戶自行完成
更新時(shí)間:2024-12-13
臺(tái)式掃描電鏡 2013年5月7日，日立高新技術(shù)公司推出臺(tái)式掃描電鏡tm3030。 日立高新生產(chǎn)和銷售的電子顯微鏡廣泛用于各行業(yè)的研究和開(kāi)發(fā)、質(zhì)量管理等，包括納米技術(shù)和生物技術(shù)領(lǐng)域。臺(tái)式顯微鏡目前在全世界范圍內(nèi)廣泛使用，主要應(yīng)用領(lǐng)域包括私營(yíng)企業(yè)、政府機(jī)關(guān)、科學(xué)博物館、以及教育機(jī)構(gòu)如大學(xué)、學(xué)院、小學(xué)和初中學(xué)校。臺(tái)式
更新時(shí)間:2024-12-13
超大樣品臺(tái)（標(biāo)配，僅適用于 phenom xl）phenom xl 電鏡腔室由原來(lái)的 32 mm 擴(kuò)容為 100 mm x 100 mm，一次可容納至多 36 個(gè) 1/2 英寸樣品臺(tái)樣品最大尺寸：長(zhǎng) 100 mm；寬 100 mm；高度 65 mm用這個(gè)樣品臺(tái)可以對(duì)各種各樣的樣品成像
更新時(shí)間:2024-12-10
設(shè)計(jì)用于冶金/金相樣品的觀察（鑲嵌在樹(shù)脂里）最大尺寸：直徑32mm；高度30mm
更新時(shí)間:2024-12-10
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2024-12-10
微型電子元器件插件是設(shè)計(jì)用來(lái)最小化制樣時(shí)間的。插件配合金相樣品杯使用。
更新時(shí)間:2024-12-10
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)；诟吡炼 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-12-10
第六代 phenom pure 是一款使用高亮度 ceb6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 175,000 倍，用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。基于高亮度 ceb6 燈絲和全新的聚焦系統(tǒng)，phenom pure 的分辨率輕松達(dá)到 10 nm，同時(shí)具有全自動(dòng)操作、15 快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、2-3 年更換燈絲等特點(diǎn)。
更新時(shí)間:2024-12-10
秉承飛納臺(tái)式掃描電鏡系列全自動(dòng)操作、快速成像、不噴金觀看不導(dǎo)電樣品、完全防震、性能穩(wěn)定的特點(diǎn)，荷蘭飛納公司推出第二代肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡 phenom pharos g2, 集背散射電子成像、二次電子成像和能譜分析功能于一體。高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源，使用戶可以輕松獲得高分辨率圖像，分辨率優(yōu)于 1.5nm
更新時(shí)間:2024-12-10
日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡“su5000“，搭載了全新的用戶界面和“em wizard“，無(wú)論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2024-12-06
日立中型掃描電鏡su38001) 支持超大/超重樣品測(cè)試 可搭載的 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì) 大高度為80mm、重量為2k
更新時(shí)間:2024-12-02
日立臺(tái)式掃描電鏡tm4000 ii / tm4000plus i臺(tái)式顯微鏡作為掃描電子顯微鏡（sem）在生物技術(shù)和材料等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。該系列由日立高新技術(shù)于2005年4月開(kāi)始銷售，可放在辦公桌上，
更新時(shí)間:2024-12-02
日立大型掃描電鏡su3900在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大
更新時(shí)間:2024-12-02
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡此外，為一次性獲取大量信息，單次掃描像素?cái)U(kuò)展到了40,960 x 30,720（選配），是之型號(hào)的64倍。利用這一功能，可憑借一張數(shù)據(jù)圖像有效評(píng)估多處局部的細(xì)微結(jié)構(gòu)。在fe-sem的觀察和分析中，需要根據(jù)測(cè)量樣品與需求調(diào)整觀察條件。調(diào)整所需時(shí)間的長(zhǎng)短取決于用戶的操作熟練度，這是造成數(shù)據(jù)質(zhì)量與效率差異的因素之一。此系列產(chǎn)品標(biāo)配自動(dòng)調(diào)整功能，可避免人為操作導(dǎo)
更新時(shí)間:2024-12-02
日立大型掃描電鏡近年來(lái)為了實(shí)現(xiàn)各種材料的高功能化和高性能化，需要觀察并優(yōu)化材料的微細(xì)結(jié)構(gòu)。目sem的應(yīng)用除了以往的研究開(kāi)發(fā)以外，已擴(kuò)展到質(zhì)量和生產(chǎn)管理方面，使用頻率日益高漲。同時(shí)市場(chǎng)也對(duì)儀器的操作性能提出了更高的要求，以進(jìn)一步減輕操作人員的負(fù)擔(dān) 此次發(fā)
更新時(shí)間:2024-12-02
可根據(jù)不同樣品設(shè)置不同的觀察條件 樣品倉(cāng)內(nèi)的真空度及加速電壓有多種選擇，可根據(jù)需求自行設(shè)置。簡(jiǎn)化尋找視野、圖像拍攝、圖像確認(rèn)等一系列操作過(guò)程（選配） 在樣品倉(cāng)上可選配光學(xué)相機(jī)，樣品開(kāi)始觀察先拍攝樣品的整體照片，雙擊照片上的樣品，即可實(shí)現(xiàn)照片導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間:2024-12-02
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡這次新開(kāi)發(fā)的"su5000"對(duì)用戶沒(méi)有任何操作技巧上的要求，通過(guò)”em wizard“只要選擇好觀察目的就可以得到好照片。"em wizard"以人為本的設(shè)計(jì)理念使電鏡的操作性大幅上升，對(duì)于用戶來(lái)說(shuō)，再也不用去討論該用什么條件進(jìn)行觀察，只要按照觀察目的選擇”表面細(xì)節(jié)觀察“或是”成分分布“等就可以自動(dòng)將適合的觀察條件設(shè)置好。除此之外，使用經(jīng)驗(yàn)豐富的操作人員也可以像往常一樣
更新時(shí)間:2024-12-02
日立高新熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su5000--搭載用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱：日
更新時(shí)間:2024-12-02
日立肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡su8700fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等領(lǐng)
更新時(shí)間:2024-12-02
teracube thz近場(chǎng)顯微鏡利用高性能太赫茲探針，結(jié)合時(shí)域泵浦探測(cè)系統(tǒng)成為thz近場(chǎng)系統(tǒng)可以進(jìn)行高分辨率的成像研究。teracube scientific和新的teracube scientific m2是全自動(dòng)太赫茲近場(chǎng)掃描系統(tǒng)，可以在光學(xué)實(shí)驗(yàn)室中運(yùn)行。
更新時(shí)間:2024-10-28
"regulus系列"是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機(jī)型開(kāi)發(fā)的 "regulus8100" 以及su8200系列的升級(jí) "regulus8220" "regulus8230" "regulus8240"，共4個(gè)機(jī)型，均實(shí)現(xiàn)了分辨率和操作性的強(qiáng)化。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無(wú)論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采用日立高新技術(shù)公司全新開(kāi)發(fā)的冷場(chǎng)電子槍，實(shí)現(xiàn)超高分辨率下觀察的同時(shí)，穩(wěn)定的束流亦可滿足長(zhǎng)時(shí)間下的分析需求。在日立高新的新型冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(fe-sem)su8200系列中，有su8220、su8230、su8240三款機(jī)型，于5月20日開(kāi)始
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需最大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計(jì)提高了低加速電壓性能。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70 是一種新概念掃描電子顯微鏡。日立高新分析超高分辨率肖特基熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su-70采用了日立經(jīng)過(guò)實(shí)地驗(yàn)證的 “semi-in-lens”超高分辨率技術(shù)以及肖特基熱場(chǎng)發(fā)射電子槍技術(shù)。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立高新超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡su8000系列（hitachi uhr fe-sem su8000 series，su8010，su8020，su8030，su8040）具有共同的卓越功能，諸如超高分辨率技術(shù)（1.3nm/1.0kv），信號(hào)探測(cè)系統(tǒng)范圍廣，可操作性強(qiáng)，便于用戶操作等。
更新時(shí)間:2024-10-25
--搭載全新用戶界面，向所有用戶提供高畫質(zhì)圖像-- 日立高新技術(shù)公司（以下簡(jiǎn)稱：日立高新）8月4日開(kāi)始發(fā)售的肖特基式場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡"su5000"，搭載了全新的用戶界面和"em wizard"，無(wú)論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片
更新時(shí)間:2024-10-25
、微電腦液晶顯示屏，可在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)ro水和up水水質(zhì)2、采用一柱雙芯一體式純化柱，更換簡(jiǎn)單，使用壽命長(zhǎng)3、監(jiān)控濾芯更換周期，中文顯示濾芯更換信息4、采用原裝進(jìn)口陶氏反滲透膜和陶氏樹(shù)脂，保證產(chǎn)水水質(zhì)進(jìn)水要求
更新時(shí)間:2024-10-25
日立發(fā)布的200kv球差校正透射電鏡hf5000，具有高穩(wěn)定冷場(chǎng)發(fā)射電子槍，自動(dòng)球差校正器，可一鍵操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)球差校正，haadf-stem分辨率可以達(dá)到0.78埃；可配置eds雙探頭，固體角最大可達(dá)2.0sr；具備tem、stem，sem和電子衍射等多種圖像觀測(cè)模式；鏡筒和樣品臺(tái)經(jīng)過(guò)了重新設(shè)計(jì)，顯著提升了儀器的性能和穩(wěn)定性......hf5000將是材料學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體制造、石油煤炭等研究領(lǐng)域的可靠助手。
更新時(shí)間:2024-10-25
日立新一代全數(shù)字化120kv透射電子顯微鏡ht7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品ruli tem，操作的一體化和自動(dòng)化程度都有明顯提高。ht7800系列產(chǎn)品有兩個(gè)型號(hào)ht7800和ht7830。
更新時(shí)間:2024-10-25
“tm4000”和“tm4000plus”可簡(jiǎn)化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報(bào)告等一系列操作過(guò)程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報(bào)告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報(bào)告。此外，選配項(xiàng)還可實(shí)現(xiàn)更多功能。可在樣品倉(cāng)內(nèi)加裝光學(xué)相機(jī)來(lái)拍攝照片，以往通過(guò)經(jīng)驗(yàn)尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可在顯示屏上直接操作。在拍攝sem圖像時(shí)，由于“tm4000”和“tm4000plus”配置雙軸馬達(dá)臺(tái)*2，原來(lái)需手動(dòng)調(diào)整的操作，現(xiàn)在只需在顯示器上選擇要觀察的位置即可。
更新時(shí)間:2024-10-25
此次推出的su7000采用全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器，使得對(duì)二次電子信號(hào)、背散射電子信號(hào)的檢測(cè)以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號(hào)來(lái)調(diào)整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡(jiǎn)稱wd），以獲得最佳的觀察與分析條件，而su7000通過(guò)新研發(fā)的樣品倉(cāng)以及檢測(cè)器系統(tǒng)，可在同樣的wd的條件下更高效地接收各種信號(hào)，縮短了樣品觀察和分析的時(shí)間，提高了測(cè)試效率。 而且，su7000還配置了可同時(shí)6通道顯示界面（前代機(jī)型只能同時(shí)顯示4通道），進(jìn)一步升級(jí)電鏡控制系統(tǒng)，大幅提高了信號(hào)獲取速度，由此實(shí)現(xiàn)了樣品的高效率觀察。它還標(biāo)配超大樣品倉(cāng)，增設(shè)了附件接口，可適用于各種樣品的觀察與分析
更新時(shí)間:2024-10-25
可搭載的最 大樣品尺寸：“su3800” 標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)最 大高度為80mm、重量為2kg的樣品。 “su3900”作為日立高新技術(shù)的大型掃描電鏡，標(biāo)配可搭載最 大直徑300mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)最 大高度為130mm、重量為5kg(比前代機(jī)型提高2.5倍*2)的樣品
更新時(shí)間:2024-10-25
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴(kuò)大，但對(duì)于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺(tái)能對(duì)應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時(shí)需要進(jìn)行切割等加工。因此，對(duì)超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時(shí)間:2024-10-25
zeiss商業(yè)化電鏡的歷史和經(jīng)驗(yàn)已超過(guò)60年，其技術(shù)先進(jìn)、性能卓越，在失效分析以及各種分析研究中具有廣泛的應(yīng)用。zeiss不斷追求、推出新的技術(shù)和新的產(chǎn)品，使其成為不僅可拍攝高分辨率圖像，還可以完成各種各樣的分析研究，更加體現(xiàn)zeiss電子顯微鏡高價(jià)值 和高利用性。
更新時(shí)間:2024-10-09
zeiss σigma 電鏡為肖特基（schottky）熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。目前歐美地區(qū)比較推崇熱場(chǎng)發(fā)射電鏡，而日本較熱衷于冷場(chǎng)發(fā)射電鏡。該場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡主要有如下特點(diǎn)：
更新時(shí)間:2024-10-09
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè)，接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，大
更新時(shí)間:2024-08-21
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè)，接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：專業(yè)級(jí)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三級(jí)電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，最大
更新時(shí)間:2024-08-21
cube臺(tái)式掃描電鏡，適用于科研院所和高校的研究小組或企業(yè)研發(fā)中心，可對(duì)各種材料和器件表面微結(jié)構(gòu)或組織形態(tài)進(jìn)行精細(xì)觀測(cè)，接配簡(jiǎn)易eds可快速鑒定微區(qū)化學(xué)成分。電子光學(xué)系統(tǒng)：業(yè)配置；l 鎢絲槍、放大20-200kxl 加速電壓1-30kvl 三電磁透鏡，圓錐形分析物鏡l 四孔徑可變物鏡光闌樣品臺(tái)：大行程馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)，大
更新時(shí)間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube-ⅱ smart是入門微尺度分析掃描電鏡，區(qū)別于落地式掃描電鏡的笨重機(jī)身，cube-ⅱ smart占地面積小機(jī)身緊湊，僅需放在平穩(wěn)的桌面上即可操作測(cè)量，無(wú)需特殊的安裝環(huán)境。用戶還可遵照客戶服務(wù)指南來(lái)任意移動(dòng)自己的臺(tái)式sem設(shè)備。
更新時(shí)間:2024-08-21
veritas系列掃描電鏡擁有大樣品倉(cāng)室，內(nèi)含5軸多功能電動(dòng)樣品臺(tái)，可輕松測(cè)量大尺寸的樣品。并且veritas系列的樣品倉(cāng)可同時(shí)安裝了多個(gè)樣本，減少樣品來(lái)回放置時(shí)因抽真空所使用的時(shí)間，從而達(dá)到快速分析測(cè)樣的目的，有.效地提高檢測(cè)速度。
更新時(shí)間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測(cè)效率。
更新時(shí)間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時(shí)間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube-ⅱ plus電鏡能譜一體機(jī)，是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。擁有集成能譜（eds）設(shè)備的同時(shí)確保高分辨成像功能的應(yīng)用，簡(jiǎn)便化的操作使得cube-ⅱ plus可在任何微小區(qū)域，同時(shí)實(shí)現(xiàn)納米分析與元素分析。多種顯示模式為sem-eds材料表征需求的提供人性化的幫助。測(cè)量軟件豐富多樣，可滿足您日常檢驗(yàn)研究的所有需求。
更新時(shí)間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率w-sem。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)）。
更新時(shí)間:2024-08-21
genesis系列是一種高性能高分辨率的鎢燈絲掃描電鏡。新穎的設(shè)計(jì)中集成高性能和多功能性，擁有em科特（emcrafts）利的真空系統(tǒng)可加快樣品交換速度（僅在3分鐘之內(nèi)），大大提升檢測(cè)效率。
更新時(shí)間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube金屬夾雜物系列掃描電鏡，可根據(jù)不同的檢測(cè)需求，靈活定制自動(dòng)分析流程，保證高通量快速運(yùn)行。同時(shí)可將您所需要的樣品信息，如顆粒尺寸、形狀、長(zhǎng)寬比等同時(shí)顯示在界面。即使是初學(xué)者也可以方便快速地獲得整個(gè)樣品中幾千甚至幾萬(wàn)顆粒的信息。
更新時(shí)間:2024-08-21
em科特（emcrafts）cube-ⅱ桌面掃描電鏡是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，cube系列占地面積小，便攜性能好，無(wú)需特殊安裝環(huán)境，用戶可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)sem設(shè)備，節(jié)約空間成本。
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