光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

                  YY0763-2009標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測裝置供應(yīng)商
            yy0763標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)用內(nèi)窺鏡檢測裝置的檢測功能:1.內(nèi)窺鏡光纜出光角測試2.光譜透過率測定3.光能傳遞效率測定4.扭轉(zhuǎn)試驗5.短暫壓扁試驗6.拉伸試驗
            更新時間:2024-12-23
               GB/T 20145標(biāo)準(zhǔn)燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設(shè)備
            燈和燈系統(tǒng)光生物安全檢測設(shè)備是西安信捷智能檢測科技有限公司依據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《iec 62471:2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》和《gb/t 20145-2006 燈和燈系統(tǒng)的光生物安全性》研發(fā)設(shè)計的。
            更新時間:2024-12-23
            YY 9706.241-2020診斷用照明燈輻擊照度測試解決方案
            無影燈光色測試儀是依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy 9706.241-2020醫(yī)用電氣設(shè)備 第2-41部分: 手術(shù)無影燈和診斷用照明燈的基本安全和基本性能用要求研發(fā)設(shè)計的。
            更新時間:2024-12-23
            供應(yīng)GB7247.1標(biāo)準(zhǔn)全自動激光輻射類別檢測儀
            1、設(shè)備的用途:設(shè)備中發(fā)光源的激光輻射類別檢測、輻射量、伴隨輻射等參數(shù)的檢測;2、依據(jù)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn):《gb7247.1-2012》、《iec60825-1:2007》
            更新時間:2024-12-23
            西安信捷供應(yīng)光學(xué)測量儀器-相機鏡頭焦距測量裝置
            設(shè)備的用途:相機鏡頭焦距、各種光學(xué)零件、部件及光學(xué)系統(tǒng)的像質(zhì)研究及光學(xué)基本量的測定。
            更新時間:2024-12-23
            GB 7247.1-2012激光產(chǎn)品安全檢測 全自動激光檢測分析儀 醫(yī)療器械檢測設(shè)備方案定制
            全自動激光檢測分析儀符合標(biāo)準(zhǔn)《iec60825-1:2007》《gb7247.1-2012》《gb9706.20-2000》,用于醫(yī)療器械中醫(yī)用激光得分類檢測、激光輻射檢測、伴隨輻射檢測、允許照射量檢測、輻射量檢測等。采用觸摸屏控制和計算機軟件雙操作平臺,兩者可兼容操作也可獨立操作。
            更新時間:2024-12-23
            西安航天基地信捷IEM300紅光治療儀檢測設(shè)備光譜測試系統(tǒng)
            西安航天基地信捷iem300紅光治療儀檢測設(shè)備光譜測試系統(tǒng)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy/t1496-2016、yy0669-2008和yy0901-2013,是一款為光譜治療設(shè)備如紅光治療設(shè)備、嬰兒光治療設(shè)備、紫外治療等設(shè)備光學(xué)性能評估而設(shè)計的一款檢測設(shè)備。
            更新時間:2024-12-23
            YY0068西安信捷醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測裝置
            西安信捷ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測裝置是我公司依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)yy0068.1-2008和yy1298-2016研發(fā)設(shè)計的一款用于檢測醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)成像性能的高精度、高效率、多功能、全自動的檢測儀器。
            更新時間:2024-12-23
            YY1081-2011西安信捷CLT800醫(yī)用內(nèi)窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)
            yy1081-2011西安信捷clt800醫(yī)用內(nèi)窺鏡冷光源檢測系統(tǒng)產(chǎn)品設(shè)計依據(jù)醫(yī)藥行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《yy 1081—2011醫(yī)用內(nèi)窺鏡 內(nèi)窺鏡供給裝置 冷光源》,主要用于
            更新時間:2024-12-23
            YY0068.1-2008檢測設(shè)備-醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測儀
            ecr900醫(yī)用內(nèi)窺鏡光學(xué)性能檢測儀依據(jù)“yy 0068.1-2008 “醫(yī)用內(nèi)窺鏡 硬性內(nèi)窺鏡 第1部分:光學(xué)性能及測試方法”標(biāo)準(zhǔn)的測試要求,用于腹腔鏡、氣管鏡等多種常用內(nèi)窺鏡的光學(xué)性能測試。適用于內(nèi)窺鏡生產(chǎn)制造廠商對于產(chǎn)品的品控與設(shè)計驗證,檢測機構(gòu)對于內(nèi)窺鏡產(chǎn)品的質(zhì)檢和監(jiān)督,科研院所對于內(nèi)窺鏡的科學(xué)研究。
            更新時間:2024-12-23
            萬濠全自動影像測量儀
            購買萬濠全自動影像測量儀vms-5040h就來東莞市昊泰測量儀器有限公司,超值優(yōu)惠!
            更新時間:2024-12-23
            自動在線光學(xué)檢測儀 單軌在線AOI SMT焊接爐后檢測設(shè)備JTA-JUTI-X
            aoi可以置于生產(chǎn)線上的多個位置,但有三個位子是主要的:1、錫膏印刷之后。將aoi的檢測放在錫膏印刷機之后,這是個典型的放置位置,因為很多缺陷是由于錫膏印刷的不良所造成的,如錫膏量不足可能會導(dǎo)致元件丟失或開路的原因。2、回流焊,將檢測設(shè)備放置于貼片后
            更新時間:2024-12-21
            PSD-PF100-1A-0.5  電子除塵箱
            電子除塵箱,可分水平送風(fēng)和垂直送風(fēng)兩大類。電子除塵箱采用初效過濾器和高效過濾器對進(jìn)入操作區(qū)的空氣進(jìn)行兩過濾,可使工作區(qū)域的潔凈度達(dá)到10、100。整體結(jié)構(gòu)緊湊,外形美觀,箱體全鋼結(jié)構(gòu)噴塑,操作臺面采用不銹鋼材質(zhì)制造而成,經(jīng)久耐用?赏饨痈呒兊獨,氮氣過濾組,使用萬向管進(jìn)行定位吹掃?蛇x配自動選轉(zhuǎn)器(可正反轉(zhuǎn)動),便于均勻選轉(zhuǎn)。
            更新時間:2024-12-21
            日本理音RION粒子計數(shù)器
            日本rion粒子計數(shù)器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計數(shù)器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
            更新時間:2024-12-20
            日本理音RION粒子計數(shù)器
            日本rion粒子計數(shù)器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
            更新時間:2024-12-20
            德國NETZSCH差示掃描量熱儀
            差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
            更新時間:2024-12-20
            德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
            lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀,自由選擇測試氣氛,優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源,16位自動進(jìn)樣器,高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統(tǒng),設(shè)計獨特,性能優(yōu)異,配備氙燈光源的,高溫測試系統(tǒng),寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內(nèi)置微型管式爐,更高的測量效率,高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
            更新時間:2024-12-20
            OAI UV METER
            oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
            更新時間:2024-12-20
            美國泰克TEK Keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
            美國泰克tek keithley半導(dǎo)體參數(shù)分析儀4200a-scs ,加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
            更新時間:2024-12-20
            瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
            瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯(lián)合了原子力顯微鏡的核心部件來實現(xiàn)最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎(chǔ)的設(shè)計, coreafm非常合理的實現(xiàn)了最優(yōu)化的原子力顯微鏡的功能.
            更新時間:2024-12-20
            韓國Ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
            韓國ecopia霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)hms3000,hms5000,用于研究半導(dǎo)體材料/光電材料的電學(xué)特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。
            更新時間:2024-12-20
            美國 MMR 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng)
            美國 mmr 霍爾效應(yīng)測量系統(tǒng) h5000,用于研究光電材料的電學(xué)特性,利用范德堡測量技術(shù)測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)及載流子類型。整套系統(tǒng)主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
            更新時間:2024-12-20
            半導(dǎo)體測試探針臺
            半導(dǎo)體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
            更新時間:2024-12-20
            德國Mecwins 掃描式激光分析儀
            德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
            更新時間:2024-12-20
            美國NANOVEA三維表面形貌儀
            美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達(dá)1m/s,采用國際領(lǐng)先的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質(zhì)檢現(xiàn)場使用。
            更新時間:2024-12-20
            德國YXLON 高分辨率X射線檢測設(shè)備
            德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設(shè)備 y.cougar smt 平板探測器(標(biāo)配) y.cheetah 高速平板探測器(標(biāo)配)
            更新時間:2024-12-20
            美國Royec芯片拾取及放置系統(tǒng)
            美國royec芯片拾取及放置系統(tǒng)die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統(tǒng)
            更新時間:2024-12-20
            美國Royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)
            美國royec半自動型芯片拾取系統(tǒng)de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側(cè)面檢測,可選配芯片轉(zhuǎn)向功能.
            更新時間:2024-12-20
            美國RTI自動特性圖示儀
            美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設(shè)備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統(tǒng)的設(shè)計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
            更新時間:2024-12-20
            德國Klocke Nanotech  3D納米級三維測量儀
            德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標(biāo)和形貌綜合測量設(shè)備。由臺架、控制系統(tǒng)、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統(tǒng)組合,進(jìn)行在線檢測、質(zhì)量控制等。
            更新時間:2024-12-20
            日本A&D粒子計數(shù)器(粒度計)
            日本a&d粒子計數(shù)器(粒度計)sv-1a,是使用點監(jiān)測的低成本替代設(shè)備,計數(shù)值高達(dá)2,000,000個粒子/ft.
            更新時間:2024-12-20
            美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)
            美國filmetrics 薄膜厚度測量系統(tǒng)f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統(tǒng)
            更新時間:2024-12-20
            美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
            美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復(fù)雜元器件設(shè)計的新一代設(shè)備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產(chǎn)量,無需人員重復(fù)設(shè)置.
            更新時間:2024-12-20
            德國Bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀
            德國bruker傅氏轉(zhuǎn)換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經(jīng)傅利葉轉(zhuǎn)換進(jìn)而分析雜質(zhì)濃度的光譜分析儀器。
            更新時間:2024-12-20
            德國Bruker FT-NIR光譜儀
            德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經(jīng)在包括制藥,食品,農(nóng)業(yè)和化學(xué)行業(yè)在內(nèi)的所有行業(yè)的質(zhì)量控制應(yīng)用中得到了很好的應(yīng)用。它為耗時的濕法化學(xué)方法和色譜技術(shù)提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學(xué)品,使其定量和定性分析快速可靠。
            更新時間:2024-12-20
            德Bruker光學(xué)輪廓儀
            德bruker光學(xué)輪廓儀contorugt-表面量測系統(tǒng)-供生產(chǎn)qc/qa及研發(fā)研用的非接解觸型光學(xué)輪廓儀
            更新時間:2024-12-20
            德國Sentech 實時監(jiān)測儀
            sentech ald實時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機理是sentech ald實時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
            更新時間:2024-12-20
            美國OGP光學(xué)式坐標(biāo)測量儀
            美國ogp光學(xué)式坐標(biāo)測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準(zhǔn),可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
            更新時間:2024-12-20
            接觸角測定儀
            jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標(biāo)。
            更新時間:2024-12-20
            接觸角測量儀
            100標(biāo)準(zhǔn)型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進(jìn)口工業(yè)機芯,工業(yè)級連續(xù)變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
            更新時間:2024-12-20
            美Associated 耐壓測試儀​
            美associated 耐壓測試儀​hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產(chǎn)品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統(tǒng)。最后,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程安全聯(lián)鎖和數(shù)控電弧檢測系統(tǒng)。
            更新時間:2024-12-20
            美Montana超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器
            montana 新型超精細(xì)多功能無液氦低溫光學(xué)恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環(huán)的制冷系統(tǒng)只需要極少量的氦氣即可讓系統(tǒng)達(dá)到極限低溫。系統(tǒng)具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩(wěn)定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
            更新時間:2024-12-20
            德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
            德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數(shù)值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
            更新時間:2024-12-20
            美國sinton少子壽命測試儀
            sinton少子壽命測試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測試系統(tǒng),采用了獨特的測量和分析技術(shù),包括準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(qsspc)測量方法?伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應(yīng),表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。
            更新時間:2024-12-20
            布魯克Bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀
            布魯克bruker白光干涉光學(xué)輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
            更新時間:2024-12-20
            布魯克Bruker 三維光學(xué)輪廓儀
            布魯克bruker contourx-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
            更新時間:2024-12-20
            布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
            布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達(dá) 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)域。
            更新時間:2024-12-20
            日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
            日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
            更新時間:2024-12-20
            日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
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