愛克特電子型涂鍍層測厚儀概況:測頭主機一體,結構緊湊,單手操作;研制的測頭頂部由非常耐磨的硬制材料制成,使用而不損壞。標準箔及標準板可安全地存放在內置儲存?zhèn)}內。儀器隨測頭型號的不同有三種類型:F型測頭采用磁感應原理,在鋼鐵基材上測量。N型測頭采用電渦流原理,在有色金屬基材測量。FN兩用型測頭可在所有金屬基材上測量。儀器符合DIN、ISO、BS、ASTM標準。
愛克特電子型涂鍍層測厚儀技術參數:
測量范圍: | F型 0-3000μm |
N型 0-2000μm | |
FN兩用型 0-2000μm | |
讀值精度: | ±(2μm + 3%讀值) |
低端分辨率: | 0.1μm |
最小曲率半徑: | 5mm(凸),25mm(凹,分體式),35mm(凹,一體式) |
最小測量區(qū)直徑: | 20mm |
最小測量基體厚度: | 0.5mm(對F型),50μm(對N型) |
顯示: | 4位液晶顯示 |
測量單位: | μm /mils可選 |
校準方式: | 標準,一點校準,二點校準 |
統(tǒng)計數據: | s,n(最多可達90個讀值)單值/批量 |
接口: | RS-232 |
電源: | 2節(jié)堿性電池,至少測量1萬次 |
儀器尺寸: | 165mm ×44mm ×38mm |
儀器重量: | 200g |
操作溫度: | 0-50℃ |
涂鍍層測厚儀采用了磁性測厚法,是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。 涂鍍層測厚儀詳細說明 TT220采用了磁性測厚法,是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量?蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。由于該儀器體積小,測頭與儀器一體化,特別適用于工程現場測量。 涂鍍層測厚儀主要功能 可進行零點校準及二點校準。 可對測頭進行基本校準。 設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測試次數(NO)、標準偏差(S.DEV)。 可存貯和統(tǒng)計計算15個測量值。 具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)。 具有自動關機功能。 刪除功能:對測量中出現的單次可疑數據進行刪減 操作過程有蜂鳴聲提示。 有欠壓指示功能。 有錯誤提示功能。 主要技術指標 測量原理:磁性法 測量范圍:1~1250μm 測量精度:±(3%H+1)μm(零點校準) ±[(1~3)%H+1] μm(二點校準)
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CMI-700CMI-700
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產品系列DT-156涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。 特性 1、可測量涂鍍層:①磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度②非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度2、豐富的操作菜單3、連續(xù)和單次測量方式4、直接工作模式和組工作模式5、可統(tǒng)計并顯示:平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數6、可進行一點或兩點校準7、可保存400個測量數據8、USB連接并將數據傳輸至電腦9、實時刪除測量數據和組數據10、紅寶石探頭11、低電和錯誤提示12、可設置的自動關機功能 技術指標
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應 | 渦流 |
測量范圍 | 0~1250μm | 0~1250μm |
精確度 | ±3%+1μm | ±3%+1.5μm |
分辨率 | 0.1μm | 0.1μm |
最小曲率半徑 | 1.5mm | 3mm |
最小測量面積(直徑) | 7mm | 5mm |
可測量基體最小厚度 | 0.5mm | 0.3mm |
尺寸:113.5*54*27mm重量:110g
CMI700涂鍍層測厚儀介紹
CMI700能同時為磁性基材上的非磁性涂/鍍層、導性基材上的非導性涂/鍍層,以及磁性基材上的電鍍鎳層提供高科技的無損涂鍍層厚度檢測。CMI700所使用的大型帶背光的液晶顯示器,您能從任意角度以及較遠的距離輕松觀察到測量的數據和結果,并能在最短的時間內提供最精確的測量結果。
CMI700涂鍍層測厚儀主要特點
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀 Advanced Materials Analysis Instrument
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供、快速的分析;赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包,實現了對CMI900/950主機的自動化控制,分析中不需要任何手動調整或手動參數設定?赏瑫r測定最多5層、15種元素。數據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求;如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品;并且測量點最小可達0.025 x 0.051毫米。
本涂鍍層測厚儀探頭可以工作在電磁感應和渦流兩種原理下。在自動模式(AUTO)下,兩種原理可視測量的基體自動轉換,或可通過菜單進行自動模式和非自動模式轉換。 1.可測量涂鍍層: 任何磁性物質表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度 2.易于操作的菜單設計l 3.連續(xù)和單次測量方式l l 4.直接工作模式和組工作模式 5.可統(tǒng)計并顯示:平均值、最大值、最小值、標準方差、統(tǒng)計數l 6.非常方便的進行一點或兩點校準l l 7.可保存320個測量數據供隨時下載至計算機處理 8.實時刪除測量數據和組數據l 9.高低限報警l 10.低電和錯誤提示l l 11.USB傳輸數據至計算機分析統(tǒng)計 12.可設置的自動關機功能l
測溫儀*1 使用說明書 *1 保修卡 *1 電池 *2 硬盒*1 彩盒*1 USB連接線纜*1 軟件CD*1 1.4 探頭*1 |