PT 6000系列涂鍍層測(cè)厚儀
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技術(shù)參數(shù)
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涂鍍層測(cè)厚儀 劉小姐13527917373型號(hào):QuaNix4200 測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上非磁性涂層、鍍層、氧化層,如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等;詳細(xì)描述:鋼鐵基材: 用于4200測(cè)量范圍: 0-2000um測(cè)量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-2000um≤±2/100,2000-5000um≤±3/100.最小測(cè)量面積: 10x10mm最小曲率: 凸半徑 5mm凹半徑 25mm最小基材厚度:0.2mm 溫度范圍: 0-60度顯示: LCD供電形式: 2個(gè)1.5V電池體積: 100X60X27mm重量: 約110克www.konon0769.com
“鍍層測(cè)厚儀”“英國(guó)造鍍層測(cè)厚儀”“歐洲造鍍層測(cè)厚儀”我們銷售的鍍層測(cè)厚儀是最精密的鍍層測(cè)厚儀,各個(gè)部件均采用目前全球進(jìn)的產(chǎn)品,儀器測(cè)量鍍層到達(dá)1%,只需要幾秒鐘即可測(cè)試出數(shù)據(jù)。在大陸各個(gè)城市均設(shè)有服務(wù)點(diǎn),能提供質(zhì)的技術(shù)支持。 牛津CMI900鍍層測(cè)厚儀性能介紹: 測(cè)試范圍:元素周期表22號(hào)-92號(hào) 應(yīng)用行業(yè):PCB行業(yè)、連接器、LED、專業(yè)電鍍廠、電子元器件廠、衛(wèi)浴、檢測(cè)中心、半導(dǎo)體行業(yè)等 已購(gòu)買的客戶有:富士康、比亞迪、中興、步步高手機(jī)、TCL等能測(cè)量什么鍍層類型:可以同時(shí)測(cè)量5層,及復(fù)雜的合金鍍層厚度,可以測(cè)量非常微小的產(chǎn)品。重要參數(shù)介紹:
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 | |
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | ||
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) | ||
-樣品室結(jié)構(gòu) | 開(kāi)槽式樣品室 | |
-最大樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | |
-XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm | |
-Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 | |
-樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | |
激光自動(dòng)對(duì)焦功能 | ||
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 | IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛(ài)普生彩色噴墨打印機(jī) | |
分析應(yīng)用軟件 | 操作系統(tǒng):Windows 7中文平臺(tái) 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 | |
-測(cè)厚范圍 | 可測(cè)定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 | |
-基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 | |
樣品種類:鍍層 | ||
可檢測(cè)元素范圍:Ti22 – U92 | ||
| 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 | |
貴金屬檢測(cè),如Au karat評(píng)價(jià) | ||
| 材料和合金元素分析, | |
材料鑒別和分類檢測(cè) | ||
多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 | ||
元素光譜定性分析 | ||
-調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 | |
-測(cè)量自動(dòng)化功能 | 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式:“Point and Shoot” | |
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 | ||
測(cè)量位置預(yù)覽功能 | ||
激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 |
我們的鍍層測(cè)厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù),該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無(wú)需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無(wú)損的分析。
鍍層測(cè)厚儀 MAXXI 6 配備多準(zhǔn)直器系統(tǒng)及超大樣品艙,針對(duì)較薄而復(fù)雜的樣品,具有完美的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體,元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。
亮點(diǎn)采用微聚焦X射線光管,實(shí)現(xiàn)高精度、高可靠性、測(cè)量時(shí)間短、購(gòu)置成本低
采用高分辨率的硅漂移探測(cè)器(SDD),提供能量級(jí)別的最佳效率,極低的檢出限(LOD)
多準(zhǔn)直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號(hào)產(chǎn)額,提高測(cè)量效率
開(kāi)槽式超大樣品艙設(shè)計(jì),十分適合電路板或其他超大平板樣品
“USB接口”只需通過(guò)USB與計(jì)算機(jī)連接,無(wú)需額外的硬件或軟件
德國(guó)制造,符合最高工程標(biāo)準(zhǔn),堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)期可靠性
通過(guò)PTB(Physikalisch Technische Bundesanstalt)認(rèn)證,滿足最高輻射安全標(biāo)準(zhǔn)
性能及符合性
最多同時(shí)測(cè)定5層,15種元素及共存元素的校正
同時(shí)實(shí)現(xiàn)多于25種元素的定量分析
檢測(cè)方法通過(guò)ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認(rèn)證
開(kāi)槽式大樣品臺(tái)
可編程的XY樣品臺(tái)
樣品腔體積:500 × 450 × 170 mm
創(chuàng)新的防撞設(shè)計(jì)
可編程的樣品臺(tái)
預(yù)定位激光技術(shù)
最大化的樣品臺(tái)行程范圍及速度
自動(dòng)測(cè)量
軟件及校準(zhǔn)
基于WindowsTM 7操作系統(tǒng),直觀的軟件MaxxControl
選擇經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)以實(shí)現(xiàn)最大準(zhǔn)確性或選擇FP無(wú)標(biāo)樣模式以輕松實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)
成分分析:可自由選擇元素;厚度測(cè)量:可自定義鍍層結(jié)構(gòu)
對(duì)RoHS和貴金屬進(jìn)行工廠預(yù)裝校準(zhǔn)(可選)
為以下行業(yè)提供理想的檢測(cè)方案: 油漆和粉末涂料制造商汽車及航空制造業(yè)涂層檢測(cè)機(jī)構(gòu)電鍍廠涂料銷售商英國(guó)牛津CMI153鍍層測(cè)厚儀規(guī)格:—自動(dòng)識(shí)別底材—用戶無(wú)需校準(zhǔn)—磁感應(yīng):符合ASTMB499和B530、DIN50981、ISO2178及BS5411標(biāo)準(zhǔn)第9和11部分的計(jì)量方法—渦流:符合ASTMB244和B529、DIN50984、ISO2360及BS5411標(biāo)準(zhǔn)第3部分的計(jì)量方法—出廠前已校準(zhǔn)完畢,即可測(cè)量不同金屬基板上的涂層厚度英國(guó)牛津CMI153鍍層測(cè)厚儀測(cè)量范圍:—鋼鐵底材采用磁感應(yīng)技術(shù):0.001-2.04mm(0.1-80mil)—有色金屬底材采用渦流技術(shù):0.001-1.52mm(0.1-60mil)—鋼鐵和有色金屬基體最小厚度:305um,12mil—精確度:±(2um+3%讀數(shù))或±(0.1mil+3%讀數(shù))尺寸:—3.75‘‘‘‘X2‘‘‘‘X1‘‘‘‘,9.53cmX5.08cmX2.52cm重量:—2.5oz(71g)單位:—一鍵即可實(shí)現(xiàn)英制和公制單位之間的自動(dòng)轉(zhuǎn)換電池:—2XAA 自動(dòng)開(kāi)關(guān)以延長(zhǎng)電池使用壽命
ST110涂鍍層測(cè)厚儀
一、產(chǎn)品概述
ST110涂鍍層測(cè)厚儀(覆層測(cè)厚儀)是磁性、渦流一體的便攜式兩用型覆層測(cè)厚儀,自動(dòng)識(shí)別磁性和非磁性材料,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等黑色磁性金屬)上非磁性覆蓋層的厚度(有色金屬如鋅、鋁、鉻、銅和塑料,橡膠、油漆,涂料等),同時(shí)也可以測(cè)量非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等有色金屬和非磁性不銹鋼)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、涂料、陽(yáng)極氧化膜等)。
鍍層測(cè)厚儀探頭可以工作在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下。在自動(dòng)模式(AUTO)下,兩種原理可視測(cè)量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換,或可通過(guò)菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。
二、功能特點(diǎn):
▲ 可測(cè)量涂鍍層: 任何磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂層厚度
▲ 陰暗環(huán)境自動(dòng)背光顯示,易于操作的菜單設(shè)計(jì)
▲ 連續(xù)和單次測(cè)量方式
▲ 直接工作模式和組工作模式
▲ 可統(tǒng)計(jì)并顯示:平均值、最大值、最小值、標(biāo)準(zhǔn)方差、統(tǒng)計(jì)數(shù)
▲ 非常方便的進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)
▲ 可保存320個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)供隨時(shí)下載至計(jì)算機(jī)處理
▲ 實(shí)時(shí)刪除測(cè)量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù)
▲ 高低限報(bào)警
▲ 低電和錯(cuò)誤提示
▲ USB傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析統(tǒng)計(jì)
▲ 可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
三、技術(shù)參數(shù):
傳感器探頭 | 鐵磁性 | 非鐵磁性 |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 |
測(cè)量范圍 | 0~1250um | 0~1250um |
0~49.21mil | 0~49.21mils | |
誤差 | 0~850 um (1~3%+1um) | 0~850 um(1~3%+1.5um) |
(相對(duì)當(dāng)前讀數(shù)) | 850um~1250um (3~ 5%) | 850um~1250 um (3~ 5%) |
0~33.46 mils (1~3%+0.039mils) | 0~33.46mils (1~3%+0.059mils) | |
33.46um~49.21mils 3~ 5%) | 33.46um~49.21mils (3~ 5%) | |
精度 | 0~50um (0.1um) | 0~50um (0.1um) |
50um~850um(1um) | 50um~850um(1um) | |
850um~1250um(0.01mm) | 850um~1250um(0.01mm) | |
0~1.968mils (0.001mils) | 0~1.968mils (0.001mils) | |
1.968mils~33.46mils(0.01mils) | 1.968mils~33.46mils(0.01mils) | |
33.46mils~49.21mils(0.1mils) | 33.46mils~49.21mils(0.1mils) |
測(cè)量最小曲率半徑:鐵磁性1.5mm 非鐵磁性3mm
測(cè)量最小面積:鐵磁性直徑7mm 非鐵磁性直徑5mm
可測(cè)量基體最小厚度:鐵磁性0.5mm 非鐵磁性0.3mm
四、標(biāo)準(zhǔn)配置:
主機(jī) 1; 電池 2 ; USB連接線纜1 ; 軟件CD 1 ; 兩用探頭 1 (安裝主機(jī)上); 使用說(shuō)明書(shū) 1; 保修卡 1 ; 儀器箱1 。
CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個(gè)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測(cè)鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測(cè)量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/950主機(jī)的自動(dòng)化控制,
技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先于全世界的測(cè)厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定最多5層、15 種元素。
B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對(duì)與標(biāo)準(zhǔn)片)
C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;
如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米樣品臺(tái)選擇:CMI900系列采用開(kāi)槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: 一:手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二:自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI950系列采用開(kāi)閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:1 全程控樣品臺(tái):XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品最大高度為150mm,XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 2 Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下:
No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | |
空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 | |||
標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 | |||
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材,標(biāo)準(zhǔn)裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護(hù)裝置,防止樣品碰創(chuàng)探測(cè)器窗口
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3 | 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器,程序交換控制 | |
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) | |
在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
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5 | X射線探測(cè)系統(tǒng) | 封氣正比計(jì)數(shù)器 | |
裝備有峰漂移自動(dòng)校正功能的高速信號(hào)處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| -樣品室結(jié)構(gòu) | 開(kāi)槽式樣品室 | 開(kāi)閉式樣品室 |
-最大樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 任選:50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
-Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí),152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm | |
-XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 |